个人简介
2023年10月毕业于日本大阪大学, 获得应用物理学博士学位；
2024年4月加入深圳技术大学工程物理学院担任助理教授职位。
主要研究方向是基于超高真空低温原子力显微镜和开尔文探针力显微镜（UHV-LT-AFM/KPFM）的半导体材料原子尺度表征及物性分析, 并长期从事扫描探针显微镜及相关精密测量技术的开发研究。目前在Applied Surface Science, Surfaces and Interfaces, J. Phys.: Condens. Matter等期刊发表SCI论文7篇, 授权发明专利3项。参与国家自然科学基金面上项目, 中国科技部政府间国际科技创新合作重点专项, 日本文部省科学研究補助金基盤研究A等多项科研项目。
代表性论文：
1. Zhang Qu, J. Wei, Y. Sugawara and Y. Li*, Investigation of atomic surface potential on Si(111)-7×7 surface by high-frequency heterodyne-Kelvin probe force microscopy, Surfaces and interfaces, (2024) (accepted).
2. Zhang Qu, Y. Sugawara and Y. Li*, Investigation of semiconductor properties of Co/Si(111)-7×7 by AFM/KPFS, J. Phys.: Condens. Matter 35, 185001 (2023).
3. Zhang Qu, J. Wei, X. Liu, Y. Sugawara and Y. Li*, Atomic structure and electron distribution of Co atoms adsorbed on Si(111) surface by NC-AFM/KPFM at 78 K, Surface science 724, 122130, (2022).
4. J. Mu, Zhang Qu, Z. Ma*, J. Liu, Y. Li, et al. Ensemble spin fabrication and manipulation of NV centres for magnetic sensing in diamond, Sensor Review, 37, 419-424 (2017).
5. Z. Ma, Y. Shi, J. Mu, Zhang Qu, J. Liu* et al. Atomic species recognition on oxide surfaces using low temperature scanning probe microscopy, Applied Surface Science, 394, 472-478 (2016).
